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spatial profile from background light in incoherent Thomson scattering diagnostic内藤 磨; 波多江 仰紀
JAERI-Research 2002-033, 9 Pages, 2003/03
JAERI-Research-2002-033.pdf:0.46MB
トムソン散乱計測機器を用いて、電子温度分布,電子密度分布と同時にプラズマの有効荷電数()分布を計測する方法について報告する。通常は正味の散乱光子数を求めるために散乱光からの差し引きだけに使われる背景光のデータは制動放射光の視野積分の情報を含んでいる。シミュレーションによる解析の結果、不純物線からの背景光への寄与が制動放射光の1割以下であれば、この背景光のデータを用いることにより十分な精度で有効荷電数分布を再構成できることを明らかにした。